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名称 機関 メーカー 共用範囲
SU 5000
ショットキー走査型電子顕微鏡
電気通信大学
日立
学内学外とも共用
JEM-2100F
透過型電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
電気通信大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Nicolet 6700
高速応答FT-IR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy)
電気通信大学
Thermo Scientific (Thermo Scientific)
学内学外とも共用
NRS-3100
顕微レーザーラマン分光計 (Raman spectrometer)
電気通信大学
日本分光 (JASCO Corporation)
学内学外とも共用
J-720W
円二色性分計 (Circular dichroism meter)
電気通信大学
日本分光 (JASCO Corporation)
学内学外とも共用
JPS-9200
X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
電気通信大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JXA-8530F
電子線元素状態分析装置 (Electron Probe Micro Analyzer)
電気通信大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
ECA−500
溶液NMR装置 (Liquid-State NMR spectrometer)
電気通信大学
日本電子 (JEOL Resonance)
学内学外とも共用
ECZL−500R
固体対応NMR装置 (NMR spectrometer)
電気通信大学
日本電子
学内学外とも共用
JMS-T100 Accu TOF
ESI-TOF型質量分析計 (ESI-TOF Mass spectrometer)
電気通信大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JMS-S3000
MALDI-スパイラルTOF 質量分析装置 (MALDI-TOF Mass spectrometer)
電気通信大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
Ultima III
DSC粉末X線同時測定装置 (Powder X-ray diffractometer)
電気通信大学
リガク (Rigaku)
学内学外とも共用
XtaLab Synergy-R/DW/RF
HPC型単結晶X線回折装置 (Single crystal X-ray diffractometer)
電気通信大学
リガク (Rigaku)
学内学外とも共用
SmartLab/R/Kα1/RE
精密構造解析用X線回折装置 (Powder X-ray diffractometer)
電気通信大学
リガク (Rigaku)
学内学外とも共用
ELEXSYS
電子スピン共鳴装置 (Electron spin resonance spectrometer)
電気通信大学
Bruker (Bruker)
学内学外とも共用
MPMS-XL7
超伝導量子干渉型磁束計 (Magnetic Property Measurement System)
電気通信大学
quantum design (quantum design)
学内学外とも共用
PPMS
高磁場多目的物性測定システム (Physical Property Measurement System)
電気通信大学
quantum design (quantum design)
学内学外とも共用
MPMS3
超伝導量子干渉型磁束計 (Magnetic Property Measurement System)
電気通信大学
quantum design (quantum design)
学内学外とも共用
DSC8230/TG8120
熱分析装置 (Thermal analyzer)
電気通信大学
リガク (Rigaku)
学内学外とも共用
NETZSCH LFA447
フラッシュ法熱物性測定装置 (Flash method thermal property measuring device)
電気通信大学
Bruker AXS (Bruker AXS)
学内学外とも共用
FLUOVIEW FV3000
共焦点レーザー走査型顕微鏡
早稲田大学
株式会社 エビデント (EVIDENT)
学内学外とも共用
S-4800
電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
SU8240
電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
S5500
電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
NB-5000
集束イオン/電子ビーム加工観察装置?(Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
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自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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