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名称 機関 メーカー 共用範囲
JSM-7500FA
低損傷走査型分析電子顕微鏡 (Low Damage Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-7800F Prime
高分解能走査型分析電子顕微鏡 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-7000F
高分解能走査型電子顕微鏡 (Field Emission Scanning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-6510LA
低真空走査型電子顕微鏡 (Low-vacuum Scannning Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
TM-3030Plus
簡易電子顕微鏡 (Tabletop SEM)
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
Regulus 8230
高精細電子顕微鏡 (Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope (SEM))
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JSM-6610LV Oxford X-max50 + Energy 250
電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope (SEM))
東京大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-F200
多機能電界放出型透過電子顕微鏡
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200CF
低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (Low-voltage atomic-resolution Scanning Transmision Electron Microscopy)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡(Cs-STEM) (Light elements visible ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM) (Ultra-high-resolution transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Cold FE
環境対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡 (Environmental-adapted ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F Thermal FE STEM
原子分解能元素マッピング構造解析装置 ( Atomic resolution element mapping structure analyzer)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2800
ハイスループット電子顕微鏡 (High Throughput Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2010F
高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2010HC
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-2100F
クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 (Cryo-TEM/STEM)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-1400
有機材料ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (Bio-TEM)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM1250
原子直視型超高圧電子顕微鏡 (Ultra-high voltage electron microscope)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
Dimension ICON
大面積走査プローブ顕微鏡Dimension ICON
東京大学
ブルカージャパン
学内学外とも共用
SPA400+SPI4000
小型原子間力顕微鏡 (Atomin Force Microscope (AFM))
東京大学
日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
学内学外とも共用
L-trace II
走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
IB-19520CCP
大気非暴露対応冷却クロスセクションポリッシャ
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
PIPS II
TEM用ハイスループットイオン研磨システム
東京大学
gatan
学内学外とも共用
JIB-PS500i
集束イオンビーム加工観察装置
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
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〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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