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名称 機関 メーカー 共用範囲
inspeXio SMX-100CT
X線CT装置(100kV)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
島津製作所
学内学外とも共用
inspeXio SMX-225CT
X線CT装置(225kV)
名古屋工業大学
産学官金連携機構
島津製作所
学内学外とも共用
-
ガラス旋盤
名古屋工業大学
産学官金連携機構
-
学内学外とも共用
VG400
簡易グローブボックス
名古屋工業大学
産学官金連携機構
アズワン
学内学外とも共用
L70
ヘリウム液化機
名古屋工業大学
産学官金連携機構
LINDE
学内学外とも共用
-
無響室
名古屋工業大学
産学官金連携機構
-
学内学外とも共用
-
電波暗室
名古屋工業大学
産学官金連携機構
-
学内学外とも共用
5面電波暗室
中型電波暗室
名古屋工業大学
産学官金連携機構
リケン環境システム
学内学外とも共用
シールドルーム
シールドルーム
名古屋工業大学
産学官金連携機構
リケン環境システム
学内学外とも共用
SYS-N2817-01、-02
BCI/TWC/DPIイミュニティ試験システム
名古屋工業大学
産学官金連携機構
ノイズ研究所
学内学外とも共用
TS9949-NITX
エミッション試験システム
名古屋工業大学
産学官金連携機構
東陽テクニカ
学内学外とも共用
-
恒温恒湿室一式(人工気候室)付属測定装置一式を含む
名古屋工業大学
産学官金連携機構
㈱大西熱学
学内のみ
IntelliSuite
MEMS用統合解析ソフト
豊田工業大学
インテリセンス (IntelliSense)
学内学外とも共用
B1505A
パワーデバイスアナライザ (Power Device Analyzer & Curve Tracer)
京都大学
アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies, Inc.)
学内学外とも共用
4294A
インピーダンスアナライザ (Precision Impedance Analyzer)
京都大学
アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies, Inc.)
学内学外とも共用
MLD-230D-200K
光ヘテロダイン微小振動測定装置 (Optical Heterodyne Laser Doppler Vibrometer )
京都大学
ネオアーク(株) (NEOARK Corporation)
学内学外とも共用
ENT-2100
超微小材料機械変形評価装置 (Nano-Indenter)
京都大学
(株)エリオニクス (ELIONIX INC.)
学内学外とも共用
1470E
セルテストシステム (Solar Cell Tester)
京都大学
Solartron社 (Solartron Analytical)
学内学外とも共用
α150
高周波伝送特性測定装置 (Manual Prober)
京都大学
(株)アポロウエーブ (APOLLOWAVE Corporation)
学内学外とも共用
ZPROBE
RFプローブキット (RF Microwave Probe Kit)
京都大学
カスケード・マイクロテック(株) (Cascade Microtech, Inc.)
学内学外とも共用
ZVB14
ネットワークアナライザ (Vector Network Analyzer)
京都大学
ローデ・シュワルツ・ジャパン(株) (ROHDE & SCHWARZ)
学内学外とも共用
4200-SCS
半導体パラメータアナライザ?(Semiconductor Parameter Analyzer)
京都大学
ケースレーインスツルメンツ(株) (Keithley Instruments, Inc.)
学内学外とも共用
FCE-3
強誘電体特性評価システム (Piezoelectric Properties Evaluation System)
京都大学
(株)東陽テクニカ (TOYO Corporation)
学内学外とも共用
Cresbox
接触式シート抵抗測定器 (4 Point Probe Sheet Resistance Measurement System)
京都大学
ナプソン(株) (NAPSON CORPORATION)
学内学外とも共用
Wave-PR2
インビトロシェーカー
広島大学
タイテック株式会社
学内学外とも共用
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自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
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