研究設備検索ツール
お問い合わせ・技術相談
研究設備検索ツール
研究設備検索ツール
  >  
  >  
354 件
< 前へ 1…56789101112131415 次へ >
名称 機関 メーカー 共用範囲
PIPS II
TEM用ハイスループットイオン研磨システム
東京大学
gatan
学内学外とも共用
JIB-PS500i
集束イオンビーム加工観察装置
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
XVision200TB
CADデータ連動3次元機能融合デバイス評価用前処理システム (Preprocessing system for device evaluation that integrates 3D functions linked with CAD data)
東京大学
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JEOL SM-090010JEOL SM-090020
クロスセクションポリッシャー(CP) (Cross Section Polisher)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
EM09100IS
イオンスライサー (Ion slicer)
東京大学
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
EM UC7
ウルトラミクロトーム (Ultramicrotome)
東京大学
ライカバイオシステムズ? (Leica Microsystems K.K.)
学内学外とも共用
IB15930CP
クロスセクションポリッシャー (Cross Section Polisher)
東京大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
CADE-4T
カーボンコーター (Carbon coater )
東京大学
明和フォーシス (Meiwafosis )
学内学外とも共用
PECS
電子線顕微鏡観察用コーター (Coater for SEM analysis)
東京大学
Gatan
学内学外とも共用
S5200
走査型電子顕微鏡 (scanning electron microscope)
東京工業大学
日立
学内学外とも共用
S4500
走査型電子顕微鏡 (scanning electron microscope)
東京工業大学
日立
学内学外とも共用
JIB-4501
FIB-SEMデュアルビーム加工観察装置 (FIB-SEM Dual Beam System)
東京工業大学
日本電子
学内学外とも共用
LSM710
共焦点蛍光顕微鏡システム (Confocal Laser Scanning Fluorescence Microscope)
電気通信大学
Carl Zweiss (Carl Zweiss)
学内学外とも共用
SU 5000
ショットキー走査型電子顕微鏡
電気通信大学
日立
学内学外とも共用
JEM-2100F
透過型電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
電気通信大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
FLUOVIEW FV3000
共焦点レーザー走査型顕微鏡
早稲田大学
株式会社 エビデント (EVIDENT)
学内学外とも共用
S-4800
電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
SU8240
電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
S5500
電界放出型 走査電子顕微鏡 (Field-Emission Scanning Electron Microscope)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
NB-5000
集束イオン/電子ビーム加工観察装置?(Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy)
早稲田大学
株式会社 日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
学内学外とも共用
Regulus8230
低加速走査電子顕微鏡 (FE-SEM)
北陸先端科学技術大学院大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
原子分解能走査透過型電子顕微鏡 (STEM)
北陸先端科学技術大学院大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
JEM-2100Plus
透過電子顕微鏡 (TEM)
北陸先端科学技術大学院大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
AFM5000II SPA-400
大気中原子間力顕微鏡 (AFM)
北陸先端科学技術大学院大学
日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
学内学外とも共用
MR-GFIS
電界電離ガスイオン源搭載集束イオンビーム装置 (GFIS-FIB)
北陸先端科学技術大学院大学
日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
学内学外とも共用
< 前へ 1…56789101112131415 次へ >
MENU
設備ネット
お問い合わせ・技術相談
お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
個人情報保護方針|サイトポリシー
Copyright © 2022 Institute for Molecular Science All rights reserved.