研究設備検索ツール
お問い合わせ・技術相談
研究設備検索ツール
研究設備検索ツール
  >  
  >  
354 件
< 前へ 1…789101112131415 次へ >
名称 機関 メーカー 共用範囲
ULTRA CUT UCT
ミクロトーム (Microtome apparatus)
京都大学
ライカ (Leica)
学内学外とも共用
JSM-IT800
多機能分析走査電子顕微鏡 (Multi-functional Analysis Scanning Electron Microscope)
奈良先端科学技術大学院大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
SU9000
超高分解能電界放出型電子顕微鏡 (Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM))
奈良先端科学技術大学院大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
SU6600
低真空分析走査電子顕微鏡 (Scanning Electron Microsope (SEM))
奈良先端科学技術大学院大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JEM-2200FS
200kV透過電子顕微鏡 (200kV Transmission Electron Microscope (TEM))
奈良先端科学技術大学院大学
日本電子 (JEOL)
学内学外とも共用
HD-2700
走査透過電子顕微鏡 (STEM) (Scannning Transmission Electron Microscope (STEM))
奈良先端科学技術大学院大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
NanoWizard ULTRA Speed 2
表面ダイナミクス原子間力顕微鏡装置 (Atomic Force Microscope System for Surface Dynamics)
奈良先端科学技術大学院大学
ブルカー (Bruker)
学内学外とも共用
NE4000
微小デバイス特性評価装置 (Electron Beam Absorbed Current (EBAC) Characterization System nanoEBAC )
奈良先端科学技術大学院大学
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
JEM-1400Flash
120kVマルチマテリアル用電顕
大阪大学
日本電子
学内学外とも共用
H-3000
3MV超高圧電子顕微鏡?(3MV Ultra-High Voltage Electron Microscope)
大阪大学
(株)日立製作所?(Hitachi, Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-1000EES
1MV物質・生命科学超高圧電子顕微鏡?(1MV Materials- and Bio-Science UHVEM)
大阪大学
日本電子(株)?(JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JEM-ARM200F
200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡?(200kV atomic-resolution analytical TEM/STEM)
大阪大学
日本電子(株)?(JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
Titan Krios
300kVクライオ電子顕微鏡?(300kV Cryo-EM)
大阪大学
サーモフィッシャーサイエンティフィック?(Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
Scios2
複合ビーム3次元加工・観察装置?(FIB-SEM)
大阪大学
サーモフィッシャーサイエンティフィック?(Thermo Fisher Scientific)
学内学外とも共用
HF-2000
電界放出型200kV高分解能電子顕微鏡?(200kV high-resolution FEG-TEM)
大阪大学
日立ハイテク?(Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
H-800
200kV回折コントラスト電子顕微鏡?(200kV diffraction-contrast TEM)
大阪大学
日立ハイテク?(Hitachi High-Tech)
学内学外とも共用
AFM5000/AFM5300E
走査型プローブ顕微鏡?(Scanning Probe Microscope)
大阪大学
株式会社日立ハイテクサイエンス?(Hitachi High-Tech Science Corporation)
学内学外とも共用
UC7
高分子・生物系電子顕微鏡用試料作製装置群?(Bio-Science TEM Sample Preparation Machines)
大阪大学
ライカマイクロシステムズ?(Leica MICROSYSTEMS)
学内学外とも共用
PIPS II
材料系電子顕微鏡用試料作製装置群?(Material-Science TEM Sample Preparation Machines)
大阪大学
アメテック株式会社?(AMETEK)
学内学外とも共用
ORION NanoFab
高精細集束イオンビーム装置?(High definition focused ion beam system)
大阪大学
カールツァイス?(Carl Zeiss)
学内学外とも共用
Nvision 40D with NPVE
SEM付集束イオンビーム装置?(Focused ion beam system with SEM)
大阪大学
カールツァイス?(Carl Zeiss)
学内学外とも共用
JSM-7100F
EBSD解析装置?(EBSD analyzer)
広島大学
日本電子?(JEOL Ltd.)
学内学外とも共用
JSM-IT800
走査電子顕微鏡
広島大学
日本電子
学内学外とも共用
SPI3800
原子間力顕微鏡?(AFM)
広島大学
セイコーインスツルメンツ?(Seiko Instruments Inc.)
学内学外とも共用
NH-3N
レーザー式非接触三次元形状測定器
香川大学
三鷹光器
学内学外とも共用
< 前へ 1…789101112131415 次へ >
MENU
設備ネット
お問い合わせ・技術相談
お問合せ先
自然科学研究機構分子科学研究所 機器センター
〒444-8585 愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
電話番号:0564-55-7490
MAIL : eqnet-office@ims.ac.jp
個人情報保護方針|サイトポリシー
Copyright © 2022 Institute for Molecular Science All rights reserved.