透過型電子顕微鏡装置群 (Transmission Electron Microscope)
学内学外とも共用
マテリアル先端リサーチインフラ
| 設置機関 | 九州大学 |
|---|---|
| 研究科・学部 | |
| 設備分類 | 顕微鏡 > 透過電子顕微鏡 |
| 製造元 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2010, ASM-6200 |
| 設備名称 | 透過型電子顕微鏡装置群 (Transmission Electron Microscope) |
| 装置スペック | 【JEM-2010】 ・最高加速電圧：200kV、点分解能：0.23nm、 ・加速電圧：120, 200kV 【付帯設備：ウルトラミクロトームEM UC7 Leica社製】 ・薄片試料の作成に最適 ・実体顕微鏡 ・室温のみ対応 【ASM-6200】 ・液中観察(大気圧下観察) ・×10〜100,000倍観察 ・明視野、蛍光観察 (光学顕微鏡) ・電磁２段ズームコンデンサレンズ |
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